УДК: 681.7

Контроль оптической однородности материалов для инфракрасной области спектра

Вензель В.И., Горелов А.В., Егорова Е.С., Кузнецова Н.Я., Лаврентьев Е.С., Образцов В.С., Синельников М.И.

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Вензель В.И., Горелов А.В., Егорова Е.С., Кузнецова Н.Я., Лаврентьев Е.С., Образцов В.С., Синельников М.И. Контроль оптической однородности материалов для инфракрасной области спектра // Оптический журнал. 2014. Т. 81. № 9. С. 88–94.

Venzel V.I., Gorelov A.V., Egorova E.S., Kuznetsova N.Ya., Lavrentiev E.S., Obraztsov V.S., Sinelnikov M.I. Monitoring the optical homogeneity of materials for the IR region [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2014. V. 81. № 9. P. 88–94.

Ссылка на англоязычную версию:

V. I. Venzel’, A. V. Gorelov, E. S. Egorova, N. Ya. Kuznetsova, E. S. Lavrent’ev, V. S. Obraztsov, and M. I. Sinel’nikov, "Monitoring the optical homogeneity of materials for the IR region," Journal of Optical Technology. 81(9), 551-555 (2014). https://doi.org/10.1364/JOT.81.000551

Аннотация:

Описаны дифрактометрическая и интерферометрические установки для контроля оптической однородности материалов в средней и дальней инфракрасной области спектра. Даны результаты расчета погрешности измерений оптической однородности различными методами. Приведены результаты измерения оптической однородности крупногабаритных заготовок из оптических кристаллов в инфракрасной области спектра.

Ключевые слова:

оптическая однородность, дифрактометрический метод, интерферометрический метод

Коды OCIS: 120.5710; 110.4850; 120.3180

Список источников:

1. Gafni G., Azoulay M., Shilon C. Large diameter germanium single crystals for infared optics // Optical Engineering. 1989. V. 28. № 9. P. 1003–1008.
2. Gaskin R.E., Lewis C. Interferometric measurement of refractive index variations in infra-red transmitting at 10,6 μm // Opt. Acta. 1980. V. 27. № 9. P. 1287–1294.
3. Cabib D., Rahav A., Barak T. Broad-band optical test bench (OPTISHOP) to measure MTF and transmittance of visible and IR optical components // Proc. SPIE. 2007. V. 6543. P. 654311/1–654311/8.
4. Вензель В.И., Горелов А.В. Интерферометры среднего и дальнего инфракрасного диапазона спектра ИКИ-3,5 и ИКИ-10 // Оптический журнал. 2008. Т. 75. № 11. С. 47–49.
5. Deck L. Multiple surface phase-shifting interferometry // Proc. SPIE. 2001. V. 4451. P. 424–431.
6. Chiayu Ai, Wyant J.C. Measurement of the inhomogeneity of a window // Optical Engineering. 1991. V. 30. № 9. Р. 1399–1404.
7. Абдулкадыров М.А., Белоусов С.П., Семёнов А.П., Патрикеев В.Е. Интерференционный метод контроля неоднородности оптических стекол // Оптический журнал. 1997. Т. 64. № 12. С. 96–97.
8. Ган М.А., Котов В.В., Устинов С.И. Безиммерсионный метод контроля однородности крупногабаритных заготовок оптических материалов // Сб. трудов 6 Международной конференции “Прикладная оптика”. Санкт-Петербург. 2004. Т. 3. С. 190.
9. Романова Г.Э., Парпин М.А., Серегин Д.А. Компьютерные методы контроля оптики. СПб.: СПбГУ ИТМО. 2001. 185 с.
10. Basistiy I.V., Soskin M.S., Vasnetsov M.V. Optical wavefront dislocations and their properties // Optics Communications. 1995. V. 119. Р. 604–612.