Судариков И. Н.

Барышников Н.В., Денисов Д.Г., Карасик В.Е., Абдулкадыров М.А., Игнатов А.Н., Патрикеев В.Е., Семенов А.П., Морозов А.Б., Судариков И.Н., Шаров Ю.А. Высокоточный метод контроля параметров локальных отклонений нанометрового уровня поверхности оптической детали // Оптический журнал. 2018. Т. 85. № 3. С. 54–61. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-03-54-61

Baryshnikov N.V., Denisov D.G., Karasik V.E., Abdulkadyrov M.A., Ignatov A.N., Patrikeev V.E., Semenov A.P., Morozov A.B., Sudarikov I.N., Sharov Yu.A. Precision method of monitoring the parameters of the local nanometer-level deviations of an optical component’s surface [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2018. V. 85. № 3. P. 54–61. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2018-85-03-54-61

Абдулкадыров М.А., Барышников Н.В., Патрикеев В.Е., Семенов А.П., Судариков И.Н. Анализ погрешностей интерференционного метода контроля длиннофокусных фокусирующих линз // Оптический журнал. 2017. Т. 84. № 5. С. 22–28.

Abdulkadyrov M.A., Baryshnikov N.V., Patrikeev V.E., Semenov A.P., Sudarikov I.N. Analysis of errors in the interference method for testing long-focus focusing lenses [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2017. V. 84. № 5. P. 22–28.