en
Оптический журнал. 2009. Т. 76. № 3.
Физическая оптика
Кривулько К.Ф., Клищенко А.П.
Электронные спектры поглощения комплексов органических соединений с вырожденными по энергии молекулярными орбиталямиШепеленко А.А.
Определение эффективного излучающего объема в эмиссионной спектроскопии протяженной средыЛазерная физика и техника
Рябцев Г.И., Богданович М.В., Енжиевский А.И., Тепляшин Л.Л., Рябцев А.Г., Щемелев М.А., Пожидаев А.В., Кондратюк Н.В.
Титан-сапфировый лазер, накачиваемый излучением второй гармоники неодимового лазера с продольной диодной накачкойРасчёт, проектирование и производство оптических систем и их элементов
Гаврилов Д.С., Какшин А.Г., Лобода Е.А.
Способ измерения деформаций волнового фронта до λ∕8, вносимых афокальной системой большой апертурыИконика - наука об изображении
Самойлин Е.А.
Оптимальное оценивание положения центрированных в нуле гауссовских импульсных помех на изображенияхБеляков Ю.М., Карпов А.И., Кренев В.А., Молин Д.А.
Методика разработки математических моделей автоматических бортовых оптико-электронных системГолография
Тишко Д.Н., Тишко Т.В., Титарь В.П.
Применение цифровой голографической микроскопии для исследования тонких прозрачных пленокОптическое приборостроение и технология
Галанов Е.К., Филатов М.К.
Метрологические вопросы измерения температуры поверхностей бесконтактным методом ИК пирометрииОптическое материаловедение и технологии
Дымшиц О.С., Жилин А.А., Парфинский В.А., Полушкин А.Ю., Шашкин А.В.
Новые светорассеивающие ситаллы СОО-У6 и СОО-И8Котликов Е.Н., Тропин А.Н.
Коррекция спектральных характеристик отрезающих фильтровКотликов Е.Н., Тропин А.Н.
Критерий устойчивости спектральных характеристик многослойных интерференционных покрытийГрищенко А.Е., Михайлова Н.А., Кононов А.И., Рудакова Т.В., Мельников А.Б.
Исследование ориентационного порядка молекулярных цепей полистирола в поверхностных слоях тонких пленок методом наклонного поляризованного луча