en
Назад
УДК: 535.016
Формирование диаграммы рассеяния с помощью шероховатостей на границе стекла
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Стаценко В.В., Петриков В.Д. Формирование диаграммы рассеяния с помощью шероховатостей на границе стекла // Оптический журнал. 2014. Т. 81. № 4. С. 68–71.
Statsenko V.V., Petrikov V.D. Shaping the scattering pattern by means of asperities at a glass boundary [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2014. V. 81. № 4. P. 68–71.
V. V. Statsenko and V. D. Petrikov, "Shaping the scattering pattern by means of asperities at a glass boundary," Journal of Optical Technology. 81(4), 220-222 (2014). https://doi.org/10.1364/JOT.81.000220
Проведены исследование и сравнение оптических свойств шероховатых поверхностей стекла, полученных различными методами. Показано, что при создании шероховатой поверхности с помощью шлифовальных порошков размером зерна от 10 до 40 мкм ширина диаграммы рассеяния увеличивается до 35°, но при этом за счет внутренних отражений снижается количество пропускаемого излучения. Отмечено, что создание шероховатой поверхности с помощью травления обеспечивает более узкие диаграммы рассеяния, но снижает потери прошедшего излучения.
диаграмма рассеяния, шлифовка
Благодарность:Авторы благодарят доктора физ.-мат. наук Е.И. Терукова за предоставленные образцы стекол фирмы Оerlikon.
Коды OCIS: 290.5880
Список источников:1. Асланов Э., Досколович Л.Л. Тонкий коллиматор для светодиодов // Компьютерная оптика. 2012. Т. 36. № 1. С. 96–101.
2. Arvind Shah. Thin-film silicon solar cells. Italy: EPFL Press, 2010. 430 p.
3. Krc J., Zeman M., Kluth O.,Smole F., Topic M. Effect of surface roughness of ZnO:Al films on light scattering in hydrogenated amorphous silicon solar cells // Thin Solar Films. 2003. V. 426. P. 296–304.
4. Ren J., Ganapathysubramanian B., Sundararajan S. Experimental analysis of the surface roughness evolution of etched glass for micro/nanofluidic devices // J. Micromech. and Microeng. 2011. V. 21. № 2. 025012. 7 pp.
5. Pápa Z. Budai J., Farkas B., Toth Z. Investigation of surface roughness on etched glass surfaces // Thin Solar films. 2011. V. 519. P. 2903–2906.
6. Fouckhardt H., Hein E., Fox D., Jaax M. Multitude of glass surface roughness morphologies as a tool box for dosed optical scattering // Appl. Opt. 2010. V. 49. № 8. P. 1364–1372.
7. Kurdzesau F.V. Preparation of ZnO:B films with different optical haze and their influence on a-Si:H / μc-Si:H layers formation and light trapping in thin film silicon solar cells // Problems of Physics, Mathematics and Technics. 2011. № 4 (9). P. 45–50.
8. http://www.oerlikon.com