ITMO
en/ en

ISSN: 1023-5086

en/

ISSN: 1023-5086

Научно-технический

Оптический журнал

Полнотекстовый перевод журнала на английский язык издаётся Optica Publishing Group (ранее OSA) под названием “Journal of Optical Technology“

Подача статьи Подать статью
Больше информации Назад

УДК: 535.41

Сравнение методов оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров по контрасту интерференционных полос и морфологии спекл-картин

Ссылка для цитирования:

Князьков А.В., Харисов Р.И. Сравнение методов оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров по контрасту интерференционных полос и морфологии спекл-картин // Оптический журнал. 2016. Т. 83. № 5. С. 55–58.

 

Kniazkov A.V., Kharisov R.I. Comparison of methods for determining the coherence of semiconductor laser light based on interference fringe contrast and speckle pattern morphology [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2016. V. 83. № 5. P. 55–58.

Ссылка на англоязычную версию:

A. V. Kniazkov and R. I. Harisov, "Comparison of methods for determining the coherence of semiconductor laser light based on interference fringe contrast and speckle pattern morphology," Journal of Optical Technology. 83(5), 309-312 (2016). https://doi.org/10.1364/JOT.83.000309

Аннотация:

Проведено сравнение классического метода определения длины когерентности излучения полупроводниковых лазеров по спаду кривой видности интерференционных полос и спекл-метода по количеству связных областей интерференционной картины спекл-полей, использующего морфологические числа Эйлера. Исследование проведено на базе интерферометра Майкельсона с переменной оптической разностью хода плеч в несколько сантиметров. Приводятся результаты сравнения этих методов для оценки когерентности излучения полупроводниковых лазеров красного (650 нм), зеленого (532 нм) и синего (450 нм) диапазонов. Показана хорошая корреляция кривых видности интерференционных полос и зависимостей морфологических чисел Эйлера от фазовой задержки, вызываемой подвижным плечом интерферометра. Отмечено, что морфологический метод оценки когерентности излучения по картинам интерференции спекл-полей обладает высокой скоростью обработки и отличается простотой по сравнению с традиционно используемым методом измерения видности контраста интерференционных полос.

Ключевые слова:

метод определения длины когерентности, полупроводниковый лазер, видность интерференционных полос, интерференционная картина спекл-полей, морфологические числа Эйлера

Коды OCIS: 030.1670, 030.6140

Список источников:

1. Вольф Э., Мандель Л. Когерентные свойства оптических полей // УФН. 1965. Т. 87. № 3. С. 491–520.
2. Захаров Ю.Н., Малов А.Н., Попов А.Ю., Тюрин А.В. Исследование когерентных свойств лазерного излучения методами голографии и спекл-интерферометрии // Компьютерная оптика. 2009. Т. 33. № 1. С. 61–69.
3. Князьков А.В., Кукуричкин В.А. Влияние температуры на когерентность излучения полупроводниковых лазеров // Научно-техн. ведомости СПбГПУ. 2013. Вып. 4–1(182). C. 93–99.
4. MorphologicalEulerNumber, http://reference.wolfram.com/language/ref/MorphologicalEulerNumber.html