en
Оптический журнал. 2011. Т. 78. № 2.
Физическая оптика
Замковец А.Д., Понявина А.Н., Аксиментьева Е.И.
Спектральное проявление поверхностного плазмонного резонанса в наноструктурах полипарафенилен-сереброЛазерная физика и техника
Дюкин Р.В., Марциновский Г.А., Шандыбина Г.Д., Яковлев Е.Б.
Электрофизические явления при фемтосекундных воздействиях лазерного излучения на полупроводникиКутаев Ю.Ф., Манкевич С.К., Носач О.Ю., Орлов Е.П.
Лазерная локация, космическая связь и поиск сигналов внеземных цивилизаций на длине волны излучения йодного фотодиссоционного лазера – 1,315 мкмАндреев Ю.М., Зуев В.В., Ионин А.А., Киняевский И.О., Климачёв Ю.М., Козлов А.Ю., Котков А.А., Ланский Г.В., Шайдуко А.В.
Удвоение и смешение частот излучения лазеров на монооксиде углерода в нелинейных кристаллах ZnGeP2 и GaSeРасчёт, проектирование и производство оптических систем и их элементов
Досколович Л.Л., Моисеев М.А., Петрова О.И.
Светодиодная система подсветки на основе модулей, формирующих равномерную освещенность гексагональной областиГолография
Гусарова Н.И., Лушников Д.С., Маркин В.В., Одиноков С.Б., Поздняков В.В.
Изготовление голограммных зеркал для системы ночного виденияИконика - наука об изображении
Вишняков Г.Н., Лощилов К.Е.
Оптические схемы измерения формы трехмерных объектов методом проекции полосОптическое приборостроение и метрология
Парфенов П.С., Баранов А.В., Вениаминов А.В., Орлова А.О.
Комплекс для люминесцентного анализа макро- и микрообразцов в ближнем инфракрасном диапазонеВишняков Г.Н., Левин Г.Г., Ломакин А.Г.
Измерение угла вращения плоскости поляризации методом дифференциальной поляриметрии с вращающимся анализаторомФедосеев В.И.
Пуассоновская модель звездного неба и задача обнаружения звезд оптико-электронным приборомБурдин В.А., Дашков М.В., Волков К.А.
Влияние параметров схемы компенсации хроматической дисперсии на работу волоконно-оптической линии передачиОптическое материаловедение и технологии
Дукельский К.В., Евстропьев С.К.
Формирование защитных наноразмерных покрытий на основе Al2O3 (Al2O3-AlF3) на поверхности стеколАткарская А.Б., Чартий П.В., Шеманин В.Г.
Влияние технологических условий нанесения на свойства нанопленок системы Bi2O3-TiO2-Fe2O3Савельева А.В., Gallagher Shane, Гунько Ю.К., Баранов А.В.
Особенности взаимодействия квантовых точек в системах CdSe и CdTeДейнека Г.Б., Серебрякова В.С.
Применение метода В-сплайнов для расчета интегрально-оптического Х-разветвителя, изготовленного методом диффузии титана в подложку из ниобата лития