en
Оптический журнал. 2003. Т. 70. № 1.
Физическая оптика
Вознесенский Н.Б., Золотарев В.М., Калиничев К.Ю., Воронин Ю.М.
Скалярное моделирование распространения света в мультиволноводных структурахКожухов С.С., Золотарев В.М.
Моделирование оптических свойств композитных структур на основе анизотропных волокон с осесимметричной укладкойБеляков А.В., Гуров И.П.
Анализ интерференционных полос с помощью метода «волновых всплесков»Жукова Е.В., Шишацкая Л.П.
Исследование поглощения коллоидных частиц металла в поверхностном слое кристалла LiFВолчек Б.З., Кононова С.В., Власова Е.Н., Мамедов Р.К., Михалев K.А.
Исследование микропористых мембран с помощью метода спектроскопии нарушенного полного внутреннего отраженияМалинин И.В., Мамедов Р.К., Волчек Б.З.
Влияние рельефа поверхности на спектральные характеристики объектаБуслов Д.К., Сушко Н.И., Юхневич Г.В.
Инфракрасный спектр жидкого фтористого водородаБуслов Д.К., Сушко Н.И., Юхневич Г.В.
Измерение толщины тонких разборных кюветЛазерная физика и техника
Вознесенский Н.Б., Вейко В.П., Вознесенская Н.Н., Воронин Ю.М.
Математическая модель прохождения света в оптоволоконных лазерных микроинструментахФофанов Я.А., Соколов И.В.
Субпуассоновская одномодовая генерация в полупроводниковом лазере с внешним резонаторомВейко В.П., Калачёв А.И., Капорский Л.Н.
Измерение температуры кварцевого волокна при лазерной вытяжке ближнепольных оптических зондов методом двухволновой пирометрииОптическое приборостроение и технология
Мухин E.Е., Раздобарин Г.Т., Семёнов В.В., Толстяков С.Ю., Шильников А.Н., Бах Л.И., Кочергин М.М., Михайловский Ю.К.
Многоканальный дифракционный спектрометр с малым уровнем рассеянного светаВангонен А.И., Гаврилов А.А., Робачевский М.В., Таганов О.К.
Возможности техники МНПВО для мониторинга содержанияКарташева М.А., Малешин М.Н., Даниленков В.И., Герасимов В.С.
Индуктивно-связанная плазма атмосферного и низкого давления как источник ионов для масс-спектрометраБеленький Б.Г., Козулин Р.А., Курочкин В.Е., Золотарев В.М.
Аналитический метод определения последовательности ДНК (секвенирование) по спектральным флуоресцентным меткамОптическое материаловедение и технологии
Шихалеева М.С., Столярова В.Л.
Исследование изменения показателей преломления стекол в системе В2О3-SiO2 при изотермическом испаренииПисьма в редакцию
Оптический способ измерения толщины прозрачных пластин с рассеивающей поверхностью