Исследование параметров анизотропии полимерных многослойных пленок и идентификация шероховатости их поверхности с помощью детерминированных матриц Мюллера

Галкин А.А., Кравченко В.И., Савенков С.Н., Вербицкий В.П., Оберемок Е.А. Исследование параметров анизотропии полимерных многослойных пленок и идентификация шероховатости их поверхности с помощью детерминированных матриц Мюллера // Оптический журнал. 2004. Т.71. №5 С. 67-71.

Galkin A.A., Kravchenko V.I., Savenkov S.N., Verbitskii V.P., Oberemok E.A. Study of the anisotropy parameters of multilayer polymeric films and identification of their surface roughness by means of determinate Mueller matrices [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2004. V. 71. No 5. P. 67-71.

Galkin A.A., Kravchenko V.I., Verbitskii V.P., Savenkov S.N., Oberemok E.A. Study of the anisotropy parameters of multilayer polymeric films and identification of their surface roughness by means of determinate Mueller matrices // Journal of Optical Technology. 2004. V. 71. № 5. P. 322-326. https://doi.org/10.1364/JOT.71.000322

С помощью метода Мюллера исследованы ориентационный порядок в многослойных полимерных пленках и шероховатость их поверхности. Пленки и их поверхность моделируются эквивалентной оптической системой, состоящей из последовательно расположенных элементов с линейной и круговой амплитудной и фазовой анизотропией. Обсуждается вопрос применимости матриц Мюллера-Джонса для нахождения параметров полимерных пленок в процессе их производства.