УДК: 535.346
Достижение предельных характеристик просветляющих интерференционных покрытий
Полный текст «Оптического журнала»
Полный текст на elibrary.ru
Публикация в Journal of Optical Technology
Гайнутдинов И.С., Несмелов Е.А., Азаматов М.Х., Каримов Р.Т., Сафин Р.Г., Абзалова Г.И. Достижение предельных характеристик просветляющих интерференционных покрытий // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 3. С. 75–78.
Gainutdinov I.S., Nesmelov E.A., Azamatov M.Kh., Karimov R.T., Safin R.G., Abzalova G.I. Achieving the limiting characteristics of antireflection interference coatings [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2007. V. 74. № 3. P. 75–78.
I. S. Gaĭnutdinov, E. A. Nesmelov, M. Kh. Azamatov, R. T. Karimov, R. G. Safin, and G. I. Abzalova, "Achieving the limiting characteristics of antireflection interference coatings," Journal of Optical Technology. 74 (3), 211-214 (2007). https://doi.org/10.1364/JOT.74.000211
Представлены результаты теоретических исследований влияния пористости пленок и шероховатости поверхности подложек на спектральные характеристики просветляющих покрытий. Проведены оценки реально достижимых значений пропускания и отражения просветляющих покрытий в зависимости от открытой пористости пленок и качества полирования поверхности подложек.
Коды OCIS: 310.6860
Список источников:1. Гайнутдинов И.С., Несмелов Е.А., Сабиров Р.С., Мустаев Р.М., Абзалова Г.И., Михайлов А.В. Влияние флуктуаций оптической толщины слоев на характеристики просветляющих покрытий // Оптический журнал. 2004. Т. 71, № 1. С. 62-67.
2. Розенберг Г.В. Оптика тонкослойных покрытий. М.: Физматгиз, 1958.
3. Крылова Т.Н. Интерференционные покрытия. Л.: Машиностроение, 1973.
4. Кард П.Г. Анализ и синтез многослойных интерференционных пленок. Таллин: Валгус, 1971.
5. Бабад-Захряпин А.А. Дефекты покрытий. М.: Энергоатомиздат, 1987. 152 с.
6. Абзалова Г.И. Моделирование оптических свойств реальных просветляющих покрытий: Автореф. дис.... Казань, 2005. 19 с.
7. Дмитрук Н.Л., Литовченко В.Г., Стрижевский В.Л. Поверхностные поляритоны в полупроводниках и диэлектриках. Киев: Наукова думка, 1989. 375 с.
8. Первеев А.Ф., Муранова Г.А., Золотарев В.М. Спектроскопический метод определения Сорбционной способности и пористости тонких пленок твердых веществ // ФТТ. 1972. Т. 14, № 10. С. 2909-2911.
9. Первеев А.Ф., Муранова Г.А. Пористость тонких слоев, полученных в вакууме // ОМП. 1973. № 2. С. 73-74.
10. Муранова Г.А. Исследование микропористости тонких пленок и ее влияние на оптические характеристики одиночных слоев и многослойных интерференционных систем: Дис.... канд. техн. наук. Л.: ГОИ, 1975.
11. Золотарев В.М., Морозов В.Н., Смирнова Е.В. Оптические постоянные природных и технических сред. Л.: Химия, 1984.
12. Гайнутдинов И.С., Гусев А.Г. и др. Двухдиапазонное просветление оптических элементов для тепловизионных приборов // Оптический журнал. 2002. Т. 69, № 4. С. 64-66.
en