Исследование спектральных характеристик поверхностных пленок кристаллов CaF2 и BaF2, активированных Eu, Ce, Sm, Tm, спектроскопическими методами

Брюквина Л.И., Пидгурский С.Н., Ермолаева Е.А., Суворова Л.Ф. Исследование спектральных характеристик поверхностных пленок кристаллов CaF2 и BaF2, активированных Eu, Ce, Sm, Tm, спектроскопическими методами // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 6. С. 65–69.

Bryukvina L.I., Pidgurskiy S.N., Ermolaeva E.A., Suvorova L.F. Study of the spectral characteristics of surface films of CaF2 and BaF2 crystals doped with Eu, Ce, Sm, and Tm by spectroscopic methods [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2007. V. 74. № 6. P. 65–69.

L. I. Bryukvina, S. N. Pidgurskiĭ, E. A. Ermolaeva, and L. F. Suvorova, "Study of the spectral characteristics of surface films of CaF₂ and BaF₂ crystals doped with Eu, Ce, Sm, and Tm by spectroscopic methods," Journal of Optical Technology. 74 (6), 424-427 (2007). https://doi.org/10.1364/JOT.74.000424

Изучены пленки наноразмерных частиц, полученные на поверхности ионных кристаллов CaF₂ и BaF₂ с примесями редкоземельных металлов Eu, Ce, Sm, Tm в процессе термодиффузии внутрикристалли ческой примеси. После отжига кристаллов CaF₂ в их оптических спектрах появляются две полосы с максимумами около 270-280 нм и 390 нм, которые исчезают после снятия тонкого поверхностного слоя. В ИК спектрах кристаллов CaF2 поверхностные центры имеют интенсивные полосы 1100-1150 см^-1, 3640 см^-1 и средней интенсивности широкую полосу 3100-3700 см^-1. В ИК спектре термообработанного кристалла BaF₂:Ce появляются интенсивные полосы 855-960 см^-1 наряду с полосами 1100-1150 см^-1, 3640 см^-1 и 3100-3700 см^-1 Установлено, что в состав поверхностных центров входят ионы примесного редкоземельного металла и продукты термического разложения атмосферных газов.