УДК: 535.43

Дифракционный метод контроля углового распределения волокон в структуре плоского волокнистого материала

Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П., Ветрова Ю.Н., Рудин А.Е., Сухарев П.А.

Полный текст на elibrary.ru

Публикация в Journal of Optical Technology

Ссылка для цитирования:

Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П., Ветрова Ю.Н., Рудин А.Е., Сухарев П.А. Дифракционный метод контроля углового распределения волокон в структуре плоского волокнистого материала // Оптический журнал. 2012. Т. 79. № 9. С. 96–100.

Shlyakhtenko P. G., Nefedov V. P., Vetrova, Yu. N., Rudin A. E., Sukharev P. A. A diffraction method of monitoring the angular distribution of the fibers in the structure of a flat fibrous material [in English] // Opticheskii Zhurnal. 2012. V. 79. № 9. P. 96–100.

Ссылка на англоязычную версию:

P. G. Shlyakhtenko, V. P. Nefedov, Yu. N. Vetrova, A. E. Rudin, and P. A. Sukharev, "A diffraction method of monitoring the angular distribution of the fibers in the structure of a flat fibrous material," Journal of Optical Technology. 79(9), 599-602 (2012). https://doi.org/10.1364/JOT.79.000599

Аннотация:

Предложен безаппаратный метод контроля углового распределения волокон в волокносодержащих материалах (ВСМ) типа бумаги, олуфабрикатов прядильного производства и т. п. материалов, основанный на компьютерном расчете дифракционной фраунгоферовой картины по компьютерному микроизображению поверхности ВСМ, скорректированному на “освещение лазерным пучком света”. Предложен алгоритм компьютерной обработки построенной таким образом дифракционной картины с выходом на угловую диаграмму светорассеяния, по которой судят об угловом распределении волокон в материале. Проведенные эксперименты на полуфабрикатах прядильного производства и бумаги показали работоспособность предложенного метода и его преимущество по сравнению с аналоговым методом контроля по угловой диаграмме обратного светорассеяния.

Ключевые слова:

компьютерное обработка результатов, дифракционные компьютерные картины, анизотропия дифракционного светорассеяния, угловое распределение волокон, микроизображения поверхности, плоские волокносодержащие материалы

Коды OCIS: 050.0050, 070.0070, 100.0100

Список источников:

1. Шляхтенко П.Г. Неразрушающие методы оптического контроля структурных параметров волокносодержащих материалов. СПб.: СПГУТД, 2010. 258 с.
2. Шляхтенко В.П., Труевцев Н.Н., Шкроб К.Н. Метод ускоренного приготовления образцов для дифракционного контроля структурных геометрических параметров ткани // Оптический журнал. 2003. Т. 70. № 6. С. 17–21.
3. Свидетельство РФ об официальной регистрации программы для ЭВМ № 2009614350 “Программа построения на рисунке пятна света с нормальным распределением интенсивности” / Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П. Зарегистрировано в Реестре программ для ЭВМ 18.07.2009. / Программы для ЭВМ. 2009. Бюл. № 4.
4. Шляхтенко П.Г., Нефедов В.П., Шкуропат С.Н. Компьютерный анализ моделей оптических изображений полотняных переплетений // Оптический журнал. 2007. Т. 74. № 7. С. 47–50.
5. Борн М., Вольф Э. Основы оптики. М.: Наука, 1973. 719 с.
6. Шляхтенко П.Г., Суриков О.М., Калличаран С.К. Способ контроля оптической анизотропии светорассеяния плоских волокнистых материалов и устройство для его осуществления // Патент РФ № 1723503. 1992.