Назад
Ильин
Матвей
Евгеньевич
| Место работы |
| Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет «ЛЭТИ» им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия |
| Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова Национального исследовательского центра «Курчатовский институт», г. Гатчина Ленинградской области, Россия |
|
E-mail: ilin_matwei@mail.ru
ORCID: 0009-0000-3113-7761
Статьи
|
Ильин М.Е., Тойкка А.С., Воробьев М.Г., Каманина Н.В. Эллипсометрия тонких плёнок стандартного и восстановленного оксида графена // Оптический журнал. 2026. Т. 93. № 2. С. 88–95. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2026-93-02-88-95
Ilin M.E., Toikka A.S., Vorobev M.G., Kamanina N.V. Ellipsometry of standard and reduced graphene oxide thin films [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2026. V. 93. № 2. P. 88–95. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2026-93-02-88-95
|
Аннотация
|
en