Оптический журнал. 2010. Т. 77. № 1.
Физическая оптика
Захарова И.Б., Квятковский О.Е., Ермолаева Г.М., Спицына Н.Г., Шилов В.Б.
Нелинейные оптические свойства фуллерен-порфириновых комплексовЛазерная физика и техника
Серебряков В.А., Бойко Э.В., Петрищев Н.Н., Ян А.В.
Медицинские применения лазеров среднего инфракрасного диапазона. Проблемы и перспективыРасчёт, проектирование и производство оптических систем и их элементов
Грамматин А.П., Сычева А.А.
Трехзеркальный объектив телескопа без экранированияНосов П.А., Пахомов И.И., Ширанков А.Ф.
Анализ и синтез зеркально-линзовых резонаторовИконика - наука об изображении
Аверкин А.Н., Потапов А.С., Луцив В.Р.
Построение систем локальных инвариантных признаков изображений на основе преобразования Фурье-МеллинаГолография
Корешев С.Н., Никаноров О.В., Иванов Ю.А., Козулин И.А.
Программный комплекс для синтеза и цифрового восстановления голограмм-проекторов: влияние параметров синтеза на качество восстановленного изображенияОптическое приборостроение и технология
Латыев С.М., Смирнов А.П., Фролов Д.Н., Табачков А.Г., Theska R.
Обеспечение целевых показателей качества при автоматизации сборки микрообъективовАвдеев С.М., Соснин Э.А., Тарасенко В.Ф.
Факторы, ограничивающие срок службы отпаянных эксиплексных ламп барьерного разряда, содержащих хлорОптическое материаловедение и технологии
Дукельский К.В., Евстропьев С.К.
Формирование наноразмерных MgO-покрытий на поверхности стеклаГорохова Е.И., Демиденко В.А., Еронько С.Б., Родный П.А., Михрин С.Б., Орещенко Е.А.
Люминесцентные и сцинтилляционные свойства оптической керамики Gd2O2S:EuАгрузов П.М., Дукельский К.В., Комаров А.В., Тер-Нерсесянц Е.В., Хохлов А.В., Шевандин В.С.
Разработка микроструктурированных световодов с большой сердцевиной и исследование их оптических свойствГайнутдинов И.С., Гусев А.Г., Душин А.В., Мустаев Р.М., Насыров А.Р., Мирханов Н.Г., Михайлов А.В.
Контроль оптических толщин осаждаемых слоев непосредственно на рабочих образцах в процессе ростаГаврищук Е.М., Вилкова Е.Ю., Тимофеев О.В., Колесников А.Н.
Исследование полированных поверхностей халькогенидов цинка путем компьютерного распознавания дефектов на микрофотографияхПисьма в редакцию
Савуков В.В.
Нарушение изотропности диффузного излучения вследствие его дифракции на многомерных регулярных структурах