en
Оптический журнал. 2012. Т. 79. № 7.
Физическая оптика
Вольпян О.Д., Обод Ю.А., Яковлев П.П.
Параметризация модели Фороухи–Блумера–Лорентца для пленок Ta2O5 в области фундаментального поглощенияСавуков В.В., Голубенко И.В.
Моделирование взаимодействия произвольного светового поля с дифракционной решеткой методом Монте-КарлоРасчёт, проектирование и производство оптических систем
Хацевич Т.Н., Парко В.Л.
Алгоритм расчета объективов-апохроматов с разнесенными компонентами для телескопических и коллимационных системОптическое приборостроение и технология
Гавричев В.Д., Дмитриев А.Л.
Волоконно-оптический пороговый датчик температурыДик В.П., Лойко В.А.
Электроуправляемые дисперсионные фильтры видимого и среднего инфракрасного диапазонов спектраСолдатенков В.А., Грузевич Ю.К., Ачильдиев В.М., Левкович А.Д., Литвак Э.С.
Оптико-электронный прибор для наблюдения, регистрации изображения и определения географических координат удаленных объектовКручинин Д.Ю., Яковлев О.Б., Андронов М.П.
Исследование влияния условий синтеза круговых оптических шкал, изготовленных с использованием лазерного генератора изображений CLWS-300, на их угловые погрешностиОптическое материаловедение и технологии
Дымшиц О.С., Жилин А.А., Алексеева И.П., Скопцов Н.А., Маляревич А.М., Юмашев К.В.
Синтез и спектрально-люминесцентные свойства литиевоалюосиликатных стеклокерамик, содержащих нанокристаллы ErxYb2–xTi2O7Дымшиц О.С., Жилин А.А., Алексеева И.П., Скопцов Н.А., Маляревич А.М., Юмашев К.В.
Структурные превращения и спектрально-люминесцентные свойства магниевоалюмосиликатных стеклокерамик, содержащих нанокристаллы ErxYb2–x(Ti, Zr)2O7Буреев С.В., Мешковский И.К., Уткин Е.Ю., Дукельский К.В., Ероньян М.А., Комаров А.В., Ромашова Е.И., Серков М.М., Бисярин М.А.
Минимизация оптических потерь в анизотропных одномодовых световодах с эллиптичной борогерманосиликатной оболочкойЗинченко В.Ф., Тимухин Е.В., Соболь В.П., Мозговая О.В., Кочерба Г.И.
Оптимизация состава пленкообразующих материалов и свойств тонкопленочных покрытий интерференционной оптики на основе принципа основности–кислотностиПрактические проблемы производства
Тишкин В.О., Парфенов В.А.
Точность создания электронных 3D-моделей при лазерном сканировании