Оптический журнал. 2020. Т. 87. № 1.

Физическая оптика

Макин Р.С., Макин В.С.

Универсальный характер разрушения конденсированных сред мощным терагерцовым излучением и критерий аббе

Борисова М.Э., Камалов А.М., Кизеветтер Д.В., Малюгин В.И., Селезнев Д.А.

Оценка концентрации одностенных углеродных нанотрубок в полиэтилене спектрально-корреляционным методом

Лазерная физика и техника

Жевлаков А.П., Беспалов В.Г., Данилов О.Б., Завьялов А.К., Ильинский А.А., Кащеев С.В., Конопелько Л.А., Мак А.А., Гришканич А.С., Елизаров В.В.

Рамановские гиперспектральные технологии дистанционного зондирования углеводородных геохимических полей

Изынеев А.А., Садовский П.И.

Тепловыделение в эрбиевом активном элементе на фосфатном стекле при диодной лазерной накачке

Голография

Жаркова Г.М., Стрельцов С.А.

Влияние наночастиц оксида иттрия на диэлектрические свойства и динамику формирования голографических полимерно-жидкокристаллических композитов

Оптическое приборостроение и метрология

Демьяненко М.А., Козлов А.И., Новоселов А.Р., Овсюк В.Н.

Применение эквивалентной шуму разности температур для сравнения фотоприемников сверхвысокой размерности на основе многослойных структур с квантовыми ямами

Карасева Е.А.

Разработка программно-аппаратного измерительного комплекса сбора, детектирования и обработки фотоплетизмограмм

Jia Xiaopeng, Li Zhiquan, Li Qiang, Li Wenchao, Tong Kai, Wu Xiaogang

Датчик концентрации сахарозы, использующий нанослой графена и улучшенный поверхностный плазмонный резонанс в матрице золотых нанопроволок, контактирующих с нанопленкой MoS2

Оптическое материаловедение и технологии

Котликов Е.Н., Тропин А.Н.

Оптические и структурные свойства пленок ZnS0,5Se0,5 и интерференционные фильтры на их основе

Галуцкий В.В., Ивашко С.С.

Температурные дисперсии показателей преломления и коэффициентов поглощения кристаллов ниобатов калия и лития, активированных ионами иттербия, эрбия и хрома, в терагерцовом диапазоне частот

Биомедицинская оптика

Бондарко В.М., Солнушкин С.Д., Чихман В.Н.

Аномалия восприятия длины наклонных линий

Обмен опытом

Качалов В.В., Менделеев В.Я.

Методика измерения мощности излучения исследуемого материала и модели абсолютно черного тела для определения нормальной излучательной способности материала

Информация

Лучшие рецензенты 2019 года