|
Гайнутдинов И.С., Гусев А.Г., Душин А.В., Мустаев Р.М., Насыров А.Р., Мирханов Н.Г., Михайлов А.В. Контроль оптических толщин осаждаемых слоев непосредственно на рабочих образцах в процессе роста // Оптический журнал. 2010. Т. 77. № 1. С. 82–86.
Gainutdinov I.S., Gusev A.G., Dushin A.V., Mustaev R.M., Nasyrov A.R., Mirkhanov N.G., Mikhailov A.V. Directly monitoring the optical thicknesses of deposited layers on the working samples while they are being grown [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2010. V. 77. № 1. P. 82–86.
|
Abstract
|
|
Гайнутдинов И.С., Несмелов Е.А., Сабиров Р.С., Мустаев Р.М., Абзалова Г.И., Михайлов А.В. Влияние флуктуаций оптической толщины слоев на характеристики просветляющих интерференционных покрытий // Оптический журнал. 2004. Т.71. №1 С. 62-67.
Gainutdinov I.S., Nesmelov E.A., Sabirov R.S., Mustaev R.M., Abzalova G.I., Mikhailov A.V. How fluctuations of the optical thickness of the layers affect the characteristics of anti-reflection interference coatings [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2004. V. 71. No 1. P. 62-67.
|
Abstract
|
Back
