Гусев А.Г., Хасанов А.М., Нуруллин И.З., Кольцов А.Ю., Галиев А.Н., Гильфанов А.Р., Галиев Р.Р. Изменение оптических толщин тонких плёнок Ge, SiO и спектральных характеристик узкополосных фильтров при криогенных температурах // Оптический журнал. 2022. Т. 89. № 10. С. 51–57. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2022-89-10-51-57
Gusev A.G., Khasanov A.M., Nurullin I.Z., Koltsov A.Yu., Galiev A.N., Gilfanov A.R., Galiev R.R. Changes in optical thicknesses of Ge and SiO thin films and spectral characteristics of narrowband filters at cryogenic temperatures [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2022. V. 89. № 10. P. 51–57. http://doi.org/10.17586/1023-5086-2022-89-10-51-57
|
Abstract
|
Гайнутдинов И.С., Гусев А.Г., Душин А.В., Мустаев Р.М., Насыров А.Р., Мирханов Н.Г., Михайлов А.В. Контроль оптических толщин осаждаемых слоев непосредственно на рабочих образцах в процессе роста // Оптический журнал. 2010. Т. 77. № 1. С. 82–86.
Gainutdinov I.S., Gusev A.G., Dushin A.V., Mustaev R.M., Nasyrov A.R., Mirkhanov N.G., Mikhailov A.V. Directly monitoring the optical thicknesses of deposited layers on the working samples while they are being grown [in Russian] // Opticheskii Zhurnal. 2010. V. 77. № 1. P. 82–86.
|
Abstract
|